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        吉時利2410測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

        更新時間:2019-07-11       點擊次數:1837

        吉時利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

        問題:

        吉時利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

        回答:

        4200系統測量時可以直接進行處理使得電荷放電至地點。
        單臺源表做類似測量時,先加載0V電壓源測量I,將線路導通放電;延遲一段時間后,在加載需要的電壓進行正常的測量。

        此常見問題適用于:

        Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter2400 系列 SMU

        Product: 2400

        常見問題ID : 473396

         

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